Application de nouvelles techniques de traitement de signal pour la résolution des problèmes de diagnostiques de défauts des circuits analogiques intégrés

dc.contributor.authorKOUACHI , Sabah
dc.contributor.authorBOUROUBA , N. Encadrant
dc.date.accessioned2026-06-24T13:26:21Z
dc.date.issued2025
dc.description.abstracthis present work aims to contribute to the solution of the problems encountered in electronic circuits fault diagnosis. One of these troubleshoots faced is the lack of effective features that help to optimize fault classifier and hence improve circuit fault detection and identification. Thus, our feature extraction approach is based on the CUT's transfer function. In order to detect and identified those faults, we used several techniques from treatment of signal, such us Matlab identification system IS model (ISM), namely the OE model belonging to the ARMA model’s family.These features are the transfer function polynomial coefficients playing a crucial role in the fault free and faulty circuits construction models and feeding the classifier for the fault diagnosis purpose. A best accuracy and a best reduction for coefficients are obtained by using of an algorithms combination GA-SVM.
dc.description.sponsorshipNotre travail vise une contribution à la résolution des problèmes rencontrés dans le diagnostic des pannes de circuits électroniques. Un des plusieurs problèmes rencontrés est l'absence de fonctionnalités efficaces qui contribuent à optimiser le classificateur de pannes, et par conséquent, à améliorer la détection et l'identification des fautes de circuit.Par conséquent, notre méthode d'extraction de caractéristiques base sur la fonction de transfert (FT).Pour détecter et identifier ces défauts, nous avons employé diverses téchniques du traitement du signal, comme des modèles du système d’identification(MSI) sur Matlab tel que le modèle d’erreur de sortie OE (Output Error) qui fait partie de la famille des modèles ARMA.Ces caractéristiques représentent les coefficients du polynôme de la fonction de transfert, qui sont essentiels dans la modélisation des circuits sans défauts et défectueux, ainsi que pour alimenter le classificateur en vue d'un diagnostic des pannes. Une meilleure et une bonne optimisation des caractéristiques ont obtenues par l’utilisation d’une combinaison de deux algorithmes AG-SVM.
dc.identifier.urihttps://repository.univ-setif.dz/handle/123456789/1469
dc.language.isofr
dc.publisherUniversité Sétif 1 - Ferhat ABBAS , Faculté de Technologie
dc.subjectTest
dc.subjectCircuit Analogique
dc.subjectAlgorithme Génétique (AG)
dc.subjectModèle OE
dc.subjectFautes Paramétriques
dc.subjectMachine à Support Vecteurs de Support (SVM).
dc.titleApplication de nouvelles techniques de traitement de signal pour la résolution des problèmes de diagnostiques de défauts des circuits analogiques intégrés
dc.typeThesis

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