Propriétés physiques de couches minces de Co100-x Pdx élaborées sous vide par évaporation thermique

BOUREZG , Ahlem; KHARMOUCHE , A. Encadrant

Propriétés physiques de couches minces de Co100-x Pdx élaborées sous vide par évaporation thermique

dc.contributor.author	BOUREZG , Ahlem
dc.contributor.author	KHARMOUCHE , A. Encadrant
dc.date.accessioned	2026-07-09T08:32:51Z
dc.date.issued	2018
dc.description	Ce travail de thèse porte sur l’étude des propriétés structurales et magnétiques des couches minces de CoPd d’épaisseur 150 nm, évaporées sous vide sur des substrats de GaAs(100) et de Si(100). Les concentrations atomiques de Pd sont confinées entre 8 et 31%, valeurs déterminées par la techniques XRF. L’étude par DRX a montré que les films CoPd/GaAs sont monocristallins et ont une structure cubique à faces centrées (c.f.c.) et les films CoPd/Si ont une structure hexagonale compacte (h.c.p.). La taille des grains des échantillons CoPd/GaAs est confinée entre 4.8 et 21.6 nm et varie entre 81.6 et 107.7nm pour les échantillons CoPd/Si. Par ailleurs, la microscopie AFM révèle des images topographiques de surface lisse pour la plupart des échantillons; les valeurs de la rugosité sont comprises entre 0.7 et 8.4nm. Les mesures d’aimantation ont montré que les films sont ferromagnétiques, avec une anisotropie planaire. Le champ coercitif est compris entre 20 et 251 Oe. L’aimantation à saturation est comprise entre 192 et 1152emu/cm3 et diminue avec l’augmentation de la concentration de Pd.
dc.description.abstract	In this thesis we study the structural and magnetic properties of evaporated CoPd thin films, with 150 nm in thickness, under vacuum onto GaAs (100) and Si (100) substrate. The atomic concentration of Pd ranged from 8 to 31%, values determined by XRF measurements. XRD measurements show that the CoPd /GaAs films are monocrystallyne with fcc structure and show that CoPd/Si has an hexagonal close packed structure (hcp). The crystallite size is ranged between 4.8 and 21.6 nm for CoPd/GaAs samples, and is confined between 81, 6 and 107.7 nm for CoPd/Si samples. Furthermore, atomic force microscopy observations reveal smooth surface of the most of the samples, whereas roughness values are ranged between 0.7 and 8.4 nm. VSM measurements infer that the films are ferromagnetic with a planar anisotropy. Coercive field values are confined between 20 and 251 Oe. Saturation magnetization value ranged between 192 and 1152emu/cm3 and decreases with increasing Pd concentration
dc.description.sponsorship	150nm بسمك CoPd في هذا العمل قمنا بد ا رسة الخصائص البلورية والمغناطيسية لسلسلة من .Si( و ( 100 GaAs( صنعت بطريقة التبخير في الف ا رغ بفعل جول فوق نوعين من المساند ( 100 الرقائق 8. أثبتت الد ا رسة %- المحصورة في المجال % 31 Pd بتحديد قيم التركيز الذري ل XRF سمحت تقنية أما الرقائق المصنوعة فوق ،CFC ذات بنية GaAs أن الرقائق المصنوعة فوق مساند DRX بواسطة محصورة بين 4,8 و CoPd/GaAs كما أثبتت أن أبعاد بلو ا رت العينات ،HCP ذات بنية Si مساند107,7 . أثبت المجهر nm فتتراوح بين 81,6 و CoPd/Si 21,6 ، أما أبعاد بلو ا رت العينات nm 4,8 . أثبتت nm أن معظم العينات لها سطح أملس تت ا روح قيم خشونة السطح بين 0.7 و AFM أن العينات ذات مغناطيسية حديدية، تت ا روح قيم VSM الخصائص المغناطيسية التي تمت بواسطة تقنية 251 .أما قيم مغناطيسية التشبع فهي محصورة بين 192 Oe الحقل القاهر بين 20 و . .Pd 1152 كما أنها تتناقص بت ا زيد تركيز emu cm و 3
dc.identifier.uri	https://repository.univ-setif.dz/handle/123456789/1985
dc.language.iso	fr
dc.publisher	Université Sétif 1 - Ferhat ABBAS , Faculté des Sciences
dc.subject	CoPd
dc.subject	couches minces
dc.subject	DRX
dc.subject	VSM
dc.subject	champ coercitif
dc.title	Propriétés physiques de couches minces de Co100-x Pdx élaborées sous vide par évaporation thermique
dc.type	Thesis

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