Etude du comportement optique et électrique des matériaux absorbeurs en couches minces : application aux photovoltaïques
| dc.contributor.author | DEKHIL , Djohra | |
| dc.contributor.author | GUESSAS , Hocine Rapporteur | |
| dc.date.accessioned | 2026-06-21T12:47:00Z | |
| dc.date.issued | 2025 | |
| dc.description.abstract | This thesis aims to develop and characterize tin sulfide (SnS) absorber films for photovoltaic applications. The ultrasonic spray technique was chosen for its simplicity and low cost. To prepare the chemical solution, tin chloride and thiourea were used as sources of tin and sulfur, respectively. After deposition, the films underwent various characterizations, including structural, optical, and electrical analyses, which were performed using X-ray diffraction (XRD), UV-Vis spectroscopy, photocurrent measurements, and the Hall effect. XRD results revealed that all the films crystallized in an orthorhombic structure with a preferential orientation along the (111) plane. Optical characterization showed that SnS films exhibit strong absorption in the visible range, with an average grain size of approximately 85 nm and an optical band gap of about 1.3 eV. Photocurrent measurements indicated excellent photocurrent properties for the thin films, which were further enhanced by doping. | |
| dc.description.sponsorship | Ce travail de thèse a pour objectif l’élaboration et la caractérisation des films absorbeurs de sulfure d’étain (SnS) pour l’application photovoltaïques. Nous avons utilisé la technique de spray ultrasonique à cause de sa simplicité et son faible coût. Pour préparer la solution chimique, nous avons utilisé du chlorure d’étain et de la thiourée comme source d’étain et de soufre respectivement. Après leur élaboration , les films ont subi diverses caractérisations : structurale, optique et électrique ont été caractérisées par la diffraction des rayon X (DRX), les spectrométries (UV-Vis), la mesure photocourant et l’effet hall .Les résultats de diffraction des rayons X ont montré que tous les films cristallises sous la structure orthorhombique d’orientation préférentielle sur le plan (111) La caractérisation optique a montré que les films SnS ont une forte absorption dans le visible, la taille des grains est de l’ordre de 85 nm, la valeur du gap optique est de l’ordre de 1,3 eV; Les mesures du photocourant présentent des meilleurs propriétés de photocourant des films minces, et le dopage a amélioré le photocourant des films. | |
| dc.identifier.uri | https://repository.univ-setif.dz/handle/123456789/1159 | |
| dc.language.iso | fr | |
| dc.publisher | Université Sétif 1 - Ferhat ABBAS , Institut d'Optique et Mécanique de Précision | |
| dc.subject | optique et électrique des matériaux absorbeur | |
| dc.subject | couches minces | |
| dc.subject | photovoltaïques | |
| dc.title | Etude du comportement optique et électrique des matériaux absorbeurs en couches minces : application aux photovoltaïques | |
| dc.type | Thesis |
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