Elaboration And Characterization Of Semiconductor Thin Films Based On Zinc Oxide (ZnO)
| dc.contributor.author | BOUHALASSA , Omayma | |
| dc.contributor.author | BOUDERBALA , IBRAHIM YAACOUB Supervisor | |
| dc.date.accessioned | 2026-07-12T08:56:17Z | |
| dc.date.issued | 2023 | |
| dc.description | في هذا العمل، طورنا طبقات ZnOرقيقة باستخدام طريقة ) Sol-Gelطلاء غمس) التي تم تطويرها خلال هذه الدراسة. تم إجراء التوصيف الهيكلي للطبقات الرقيقة عن طريق حيود الأشعة السينية ( ،)XRDوتم إجراء التوصيف المورفولوجي عن طريق مسح المجهر الإلكتروني ( )SEMومجهر القوة الذرية ( .)AFMتم إجراء التوصيف البصري عن طريق الأشعة فوق البنفسجية المرئية. أكدت XRDالحالة البلورية لطبقاتنا الرقيقة وتكوين .ZnOأظهر توصيف SEMو AFMالحالة التفصيلية لسطح الفيلم. أخي ًرا، سمح لنا قياس الطيف الطيفي -UV Vis-NIRبقياس انتقال الأغشية الرقيقة من . | |
| dc.description.abstract | In this work we developed thin layers of ZnO by the Sol-Gel method (Dip-Coating) achieved during this study. The structural characterization of the thin films was performed by X-ray diffraction (XRD), Morphological characterization was performed by scanning electronic microscopy (SEM) and atomic Force Microscope (AFM). Optical characterization was performed by visible UV radiation. XRD made it possible to confirm the crystal state of our thin films as well as the composition of the ZnO. Show both characterization by SEM and AFM detailed filming surface condition. Finally, UVVis-NIR spectrophotometry allowed us to measure the transmission of thin films based on ZnO | |
| dc.description.sponsorship | Dans ce travail, nous avons développé des couches minces de ZnO par la méthode Sol-Gel (Dip-Coating) réalisée au cours de cette étude. La caractérisation structurale des couches minces a été effectuée par diffraction des rayons X (XRD), la caractérisation morphologique a été effectuée par microscopie électronique à balayage (MEB) et microscope à force atomique (AFM). La caractérisation optique a été effectuée par rayonnement UV visible. XRD a permis de confirmer l’état cristallin de nos couches minces ainsi que la composition du ZnO. Montrer la caractérisation par SEM et AFM l’état détaillé de la surface de reprographie. Enfin, la spectrophotométrie UV-Vis-NIR nous a permis de mesurer la transmission de films minces à partir de ZnO | |
| dc.identifier.uri | https://repository.univ-setif.dz/handle/123456789/2014 | |
| dc.language.iso | en | |
| dc.publisher | Setif 1 University Ferhat Abbas . Institute Of Optics and Precision Mechanics | |
| dc.relation.ispartofseries | MS/849 | |
| dc.subject | ZnO | |
| dc.subject | Sol-Gel | |
| dc.subject | thin film | |
| dc.subject | Dip-Coating | |
| dc.title | Elaboration And Characterization Of Semiconductor Thin Films Based On Zinc Oxide (ZnO) | |
| dc.type | Thesis |